发明名称 半导体测试设备之处置器之传送装置
摘要 一种半导体测试设备的处置器的传送装置,其中每一捡出器吸头问的间距可调整至任意距离而不用更换凸轮盘,该处置器的传送装置包括一基座;复数个捡出器吸头用以固定/卸除半导体,其位于基座上并相对其水平移动;一凸轮盘,位于基座上且相对其移动,复数个凸轮槽倾斜于其中;复数个连接部分,其中每一连接部分的第一侧面都固定在捡出器吸头上,每一连接部分的第二侧面都与每一凸轮槽活动连接,以连接每一捡出器吸头和每一凸轮槽;及一驱动单元,驱动凸轮盘往复运动,以使捡出器吸头变换至基座的任意位置。
申请公布号 TW200619651 申请公布日期 2006.06.16
申请号 TW094127582 申请日期 2005.08.12
申请人 未来产业股份有限公司 发明人 咸哲镐;林佑永;朴龙根;宋镐根
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 韩国