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发明名称
利用光学微影技术制作抗反射结构之方法
摘要
本发明系揭露一种利用光学微影技术制作抗反射结构之方法,其系利用现有光学微影技术来制作,并同时配合调整曝光机台的数值孔径、聚焦深度、曝光剂量与曝光时间等曝光参数,以及适当设计光罩的结构排列,以调变制作出的抗反射结构之倾斜角度、周期大小及最佳化排列方式等;更可针对特定光波长之光电元件应用来设计抗反射结构,以降低其反射率,提高光电元件之光电效率。
申请公布号
TW200619835
申请公布日期
2006.06.16
申请号
TW093137720
申请日期
2004.12.07
申请人
财团法人国家实验研究院
发明人
范万达;陈学礼;徐启明;郑 家;赵健皓;陈俊淇
分类号
G03F7/00;H01L21/027
主分类号
G03F7/00
代理机构
代理人
林火泉
主权项
地址
台北市大安区和平东路2段106号3楼
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