发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 一种可改进元件电流之金氧半电晶体MOSFET元件,和其制造方法以选择性的产生应变分别至N型和P型MOSFET元件通道区。此方法包括形成一压应力氮化层于P型MOSFET元件上和一张应力氮化层于N型MOSFET元件上。之后形成一层间介电层于金氧半电晶体MOSFET元件上方,其层间介电层之应力绝对值小于上述任一应力氮化层。
申请公布号 TW200620557 申请公布日期 2006.06.16
申请号 TW094125891 申请日期 2005.07.29
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 傅竹韵;张正宏
分类号 H01L21/8238;H01L21/31 主分类号 H01L21/8238
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号