| 摘要 |
本发明旨在提供一种写入状态检查技术，不需要ORGA之逻辑电路内部之写入状态检查专用电路。对于逻辑电路依次照射输入系将ORGA内之逻辑电路构造构成为在向检查对象光重组位元元件照射之光信号自导通切换成不导通之情况最低之一个逻辑位准或输出阻抗变化之逻辑构造之光信号图案且向检查对象光重组位元元件照射之光信号系导通或不导通之第一、第二光信号图案。而且，利用和各自之逻辑输出端子连接并检测该输出端子之逻辑位准系H位准、L位准或者高阻抗之哪一种状态之输出状态检测电路检测各自之输出状态。藉着比较所检测之状态和所输入之光信号图案之正常之输出状态，对于各光重组位元元件判定依据光信号之资料写入状态是否合格。 |
