发明名称 半导体装置、半导体模组、以及半导体装置之制造方法
摘要 一种作为半导体装置之成像装置,其包括:一半导体基板,其上安装有一成像元件;一透光盖区(覆盖区),其经配置以面向一提供于该成像元件之一表面上之光接收区;及一黏接层,其配置于该成像元件之该表面上除该光接收区之外之一区域以黏结于该半导体基板与该盖区之间。该黏接层在水蒸气渗透率上于10 g/(m^2.24h)至200 g/(m^2.24h)之间变化。
申请公布号 TW200620644 申请公布日期 2006.06.16
申请号 TW094129969 申请日期 2005.08.31
申请人 夏普股份有限公司 发明人 塚本弘昌;藤田和弥;安留高志
分类号 H01L27/146;H01L23/495 主分类号 H01L27/146
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本