TEST CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME,申请号KR20050117976-传众专利搜索

发明名称	TEST CIRCUIT AND DISPLAY DEVICE HAVING THE SAME
摘要
申请公布号	KR20060063737(A)	申请公布日期	2006.06.12
申请号	KR20050117976	申请日期	2005.12.06
申请人	SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY K.K.	发明人	NOZAWA RYO
分类号	G01R31/28	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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