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发明名称 SYSTEM FOR TESTING TEMP.CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC ELEMENT
摘要
申请公布号 KR20060062601(A) 申请公布日期 2006.06.12
申请号 KR20040101497 申请日期 2004.12.04
申请人 MIRIM INTELLECTUAL ROBOT TECHNOLOGY CO., LTD. 发明人 KIM, JIN MOON;CHA, JAE KWANG;KIM, KYUNG SOO
分类号 G01K13/04 主分类号 G01K13/04
代理机构 代理人
主权项
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