发明名称 СИСТЕМА КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПЛЕНОЧНЫХ ПОКРЫТИЙ И ПОВЕРХНОСТЕЙ В ВАКУУМЕ В ПРОЦЕССЕ ИХ МОДИФИКАЦИИ
摘要 <p>Полезная модель относится к области технологии тонких пленок, а более конкретно к системам контроля параметров пленочных покрытий и поверхностей в вакууме в процессе их модификации. В основу полезной модели положена задача повысить чувствительность системы. Эта задача решается тем, что в блок монохроматора дополнительно введено многослойное интерференционное фокусирующее зеркало, а устройство регистрации снабжено линейным координатно-чувствительным газовым детектором.</p>
申请公布号 RU54191(U1) 申请公布日期 2006.06.10
申请号 RU20050140374U 申请日期 2005.12.23
申请人 发明人
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
地址