| 摘要 |
<p><P>Il est proposé des systèmes, procédés et dispositifs par lesquels, dans certaines formes de réalisation, un détecteur électronique (108) est placé dans le champ de projection d'une source (102) de rayons X, et le détecteur électronique mesure l'écart entre un champ de lumière visible (104) et un champ de rayons X (106). Dans certaines formes de réalisation, l'échelle de l'écart est modifiée par rapport à la position du détecteur électronique entre le récepteur de rayons X et la source de rayons X.</P></p> |
