发明名称 DEFECT INSPECTION METHOD
摘要
申请公布号 KR100586293(B1) 申请公布日期 2006.06.08
申请号 KR20040082130 申请日期 2004.10.14
申请人 发明人
分类号 G01B11/02;G01N21/88;G01N21/956;G06K9/00;G06T1/00;G06T7/00;H01L21/66 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项
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