TESTER FOR WIDE INPUT / OUTPUT EMBEDDED MEMORY DEVICE,申请号KR20000050523-传众专利搜索

发明名称	TESTER FOR WIDE INPUT / OUTPUT EMBEDDED MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号	KR100586069(B1)	申请公布日期	2006.06.07
申请号	KR20000050523	申请日期	2000.08.29
申请人		发明人
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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