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发明名称
晶圆检验方法
摘要
为了检验一种晶圆(10),目前所用的方式是对整个晶圆(10)进行一种晶圆对晶圆之比较。为了确保可提早辨认此晶圆(10)上的缺陷或缺陷发展情况,则一种晶圆对晶圆之比较过程只限制在可由使用者所选取之特定的比较区(22)上。
申请公布号
TW200617369
申请公布日期
2006.06.01
申请号
TW094139578
申请日期
2005.11.11
申请人
莱卡显微系统半导体股份有限公司
发明人
里雀尔 乔吉;麦克森 岱特雷夫
分类号
G01N21/00
主分类号
G01N21/00
代理机构
代理人
詹铭文;萧锡清
主权项
地址
德国
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