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发明名称
具有复合蚀刻停止层之半导体装置及其制造方法
摘要
本发明系关于一种具有复合蚀刻停止层之半导体装置,其包括:一基底,具有一导电构件;一第一蚀刻停止层,位于该基底与该导电构件上;一第二蚀刻停止层,位于该第一蚀刻停止层上;一介电层,位于该第二蚀刻停止层上;以及一导电物,位于该介电层、该第二蚀刻停止层与该第一蚀刻停止层中,电性连结于该导电构件。此外,本发明亦关于一种具有复合蚀刻停止层之半导体装置之制造方法。
申请公布号
TW200618102
申请公布日期
2006.06.01
申请号
TW094114214
申请日期
2005.05.03
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
卢永诚;包天一;林思宏;章勋明
分类号
H01L21/3065
主分类号
H01L21/3065
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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