发明名称 具有复合蚀刻停止层之半导体装置及其制造方法
摘要 本发明系关于一种具有复合蚀刻停止层之半导体装置,其包括:一基底,具有一导电构件;一第一蚀刻停止层,位于该基底与该导电构件上;一第二蚀刻停止层,位于该第一蚀刻停止层上;一介电层,位于该第二蚀刻停止层上;以及一导电物,位于该介电层、该第二蚀刻停止层与该第一蚀刻停止层中,电性连结于该导电构件。此外,本发明亦关于一种具有复合蚀刻停止层之半导体装置之制造方法。
申请公布号 TW200618102 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW094114214 申请日期 2005.05.03
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 卢永诚;包天一;林思宏;章勋明
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号