发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 本发明提供一种非挥发性半导体记忆装置,其采用可判定读出之资料是否具有充分裕度的读出方式。非挥发性半导体记忆装置具有:胞阵列,其配列有电可重写的非挥发性记忆胞;感测放大电路,其系藉由检测上述胞阵列之位元线之电压变化,读出该位元线连接之选择记忆胞之资料;上述感测放大电路系以在依上述选择记忆胞之资料而上述位元线之电压变化之期间内的复数时序读出资料,比较藉由连续2次的资料读出所得到之读出资料而判定上述选择记忆胞之临限值裕度之方式构成。
申请公布号 TWI256052 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW093141820 申请日期 2004.12.31
申请人 东芝股份有限公司 发明人 志贺仁
分类号 G11C16/02 主分类号 G11C16/02
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种非挥发性半导体记忆装置,其特征为具有: 胞阵列,其系排列有电可重写之非挥发性记忆胞; 及 感测放大电路,其系藉由检测上述胞阵列之位元线 之电压变化,读出该位元线连接之选择记忆胞之资 料; 上述感测放大电路系以在依上述选择记忆胞之资 料而上述位元线之电压变化之期间内的复数时序 读出资料,比较藉由连续2次之资料读出所得到之 读出资料而判定上述选择记忆胞之临限値裕度之 方式构成。 2.如请求项1之非挥发性半导体记忆装置,其中 上述感测放大电路具有: 第一电晶体,其系选择性连接上述胞阵列之位元线 与感测节点之间,以实施位元线电压之箝压动作及 将位元线电压传送至感测节点之动作; 第二电晶体,其系被连接于上述感测节点而进行感 测节点及位元线之预充电; 资料锁存器,其系检测出被传送至上述感测节点之 位元线电压而锁存读出资料; 资料记忆电路,其系暂时性地保持由上述资料锁存 器传送来之读出资料;及 临限値裕度判定电路,其系比较上述资料记忆电路 保持之第一读出资料及比此第一读出资料晚被读 出而上述资料锁存器保持之第二读出资料,在检测 出资料反转时输出警告信号。 3.如请求项2之非挥发性半导体记忆装置,其中 具有ECC电路,其仅在输出上述警告信号的情况,被 控制成对读出资料进行错误检验及修正。 4.如请求项2之非挥发性半导体记忆装置,其中 具有读出上述胞阵列之某一分页的资料而写入其 他分页的分页复制功能; 具有ECC电路,其仅在对复制主页之读出资料输出上 述警告信号的情况,被控制成进行错误检验及修正 。 5.如请求项1之非挥发性半导体记忆装置,其中 上述胞阵列系排列复数个NAND胞单元而构成,各NAND 胞单元具有:记忆胞,其系控制闸极分别连接于相 异之字元线且被串联连接复数个者;第一选择闸极 电晶体,其系用以将其一端连接于位元线;及第二 选择闸极电晶体,其系用以将另一端连接于共通源 极线;且具有复数个区块,其被定义作为在位元线 方向各自共有1条字元线之NAND胞单元之集合。 图式简单说明: 图1系本发明之实施方式等NAND型快闪记忆体之区 块构造之图。 图2系上述快闪记忆体之胞阵列构造之图。 图3系上述快闪记忆体之读出单元构造之图。 图4系上述快闪记忆体之资料临限値分布之图。 图5系上述快闪记忆体之读出时之偏压条件之图。 图6系上述快闪记忆体之读出动作流程之图。 图7系上述快闪记忆体之读出动作时序之图。 图8系上述快闪记忆体之读出时之位元线及感测节 点的电压变化之图。 图9系说明藉由上述快闪记忆体之读出单元进行之 临限値判定之动作之图。 图10系说明藉由上述快闪记忆体之读出单元进行 之临限値判定之动作之图。 图11系说明藉由上述快闪记忆体之读出单元进行 之临限値判定之动作之图。 图12系上述快闪记忆体之分页复制动作流程之图 。 图13系其他实施方式之NAND型快闪记忆体的区块构 造之图。 图14系适用于数位相机之实施方式之图。 图15系上述数位相机之内部构造之图。 图16A系适用于摄像机之实施方式之图。 图16B系适用于电视之实施方式之图。 图16C系适用于音讯设备之实施方式之图。 图16D系适用于电玩设备之实施方式之图。 图16E系适用于电子乐器之实施方式之图。 图16F系适用于行动电话之实施方式之图。 图16G系适用于个人电脑之实施方式之图。 图16H系适用于个人数位助理(PDA)之实施方式之图 。 图16I系适用于录音机之实施方式之图。 图16J系适用于PC卡之实施方式之图。
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