发明名称 多埠半导体记忆装置
摘要 当为同一行存取时,文字线WLA及WLB的电压准位设定为电源电压VDD–Vtp。另一方面,当为其他行存取时,文字线WLA或WLB的电压准位设定为电源电压VDD。藉此,当两方的连接埠PA,PB同时对同一行进行存取时,可藉由将文字线WLA,WLB的电压准位设定为电源电压VDD–Vtp来抑制记忆体单元的驱动电流量,以防止电晶体的电流比变小。于是结果为,可防止SNM的恶化。
申请公布号 TW200617961 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW094136144 申请日期 2005.10.17
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 新居浩二
分类号 G11C11/41;G11C11/401 主分类号 G11C11/41
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本