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发明名称
多埠半导体记忆装置
摘要
当为同一行存取时,文字线WLA及WLB的电压准位设定为电源电压VDD–Vtp。另一方面,当为其他行存取时,文字线WLA或WLB的电压准位设定为电源电压VDD。藉此,当两方的连接埠PA,PB同时对同一行进行存取时,可藉由将文字线WLA,WLB的电压准位设定为电源电压VDD–Vtp来抑制记忆体单元的驱动电流量,以防止电晶体的电流比变小。于是结果为,可防止SNM的恶化。
申请公布号
TW200617961
申请公布日期
2006.06.01
申请号
TW094136144
申请日期
2005.10.17
申请人
瑞萨科技股份有限公司
发明人
新居浩二
分类号
G11C11/41;G11C11/401
主分类号
G11C11/41
代理机构
代理人
洪澄文
主权项
地址
日本
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