| 发明名称 |
Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60210900(D1) |
申请公布日期 |
2006.06.01 |
| 申请号 |
DE2002610900 |
申请日期 |
2002.02.27 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
GOTOH;NISHIO;AOYAGI;TERASHIMA KAZUHIRO |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G01F19/00;G01R31/317;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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