| 发明名称 | 识别集成电路的方法 | ||
| 摘要 | 识别具有存储器(1)的集成电路的方法，该存储器是由多个存储单元构成的，同时它也具有一个与制造相关的由损坏存储单元(7、8、9)构成的存储单元损坏模式，其中该方法中识别集成电路的电路识别号作为存储单元损坏模式的地址函数产生。 | ||
| 申请公布号 | CN1258190C | 申请公布日期 | 2006.05.31 |
| 申请号 | CN00814641.1 | 申请日期 | 2000.10.04 |
| 申请人 | 因芬尼昂技术股份公司 | 发明人 | R·哈特曼恩 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 陈霁 |
| 主权项 | 1.一种用于识别具有存储器(1)的集成电路的方法，该存储器是由多个存储单元构成，同时它也具有一个与制造相关的由损坏存储单元(7、8、9)构成的存储单元损坏模式，所述方法包括产生识别集成电路的电路识别号的步骤，该识别号作为存储单元损坏模式的一个函数。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||