| 发明名称 | 岩体结构面粗糙度系数测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种岩体结构面粗糙度系数测量方法，包含以下步骤：在工程岩体结构分析的基础上，判断潜在滑移结构面；确定潜在滑移结构面的潜在滑移破坏方向；在所述的潜在滑移方向均匀布置多个测段；采用轮廓曲线仪绘制每一测段的轮廓曲线；测量每一轮廓曲线的起伏幅度R<sub>Yn</sub>；由公式<img file="200410084471.1_ab_00.GIF" wi="1323" he="217" />计算粗糙度系数JRC<sub>n</sub>值；对JRC<sub>n</sub>值进行统计求得JRC<sub>n</sub>期望值，即为岩体结构面的粗糙度系数值。本发明所述的方法使用操作方便，测量速度快，成本低，便于进行统计测量，而且测量结果已经体现了粗糙度系数的尺寸效应影响，同时为定量统计分析具各质异性、各向异性、非均一性和尺寸效应的岩体结构面粗糙度系数提供了有效的手段，具有较大的实施价值和社会经济效益。 | ||
| 申请公布号 | CN1779415A | 申请公布日期 | 2006.05.31 |
| 申请号 | CN200410084471.1 | 申请日期 | 2004.11.18 |
| 申请人 | 金华职业技术学院 | 发明人 | 杜时贵 |
| 分类号 | G01B21/30(2006.01) | 主分类号 | G01B21/30(2006.01) |
| 代理机构 | 杭州天正专利事务所有限公司 | 代理人 | 王兵;袁木棋 |
| 主权项 | 1、一种岩体结构面粗糙度系数测量方法，其特征在于包含以下顺序步骤：(1)在工程岩体结构分析的基础上，判断潜在滑移结构面；(2)确定潜在滑移结构面的潜在滑移破坏方向；(3)在所述的潜在滑移方向均匀布置多个测段；(4)采用轮廓曲线仪绘制每一测段的轮廓曲线；(5)测量每一轮廓曲线的起伏幅度Ryn；(6)由公式<math> <mrow> <msub> <mi>JRC</mi> <mi>n</mi> </msub> <mo>=</mo> <mn>49.2114</mn> <msup> <mi>e</mi> <mfrac> <mrow> <mn>29</mn> <msub> <mi>L</mi> <mn>0</mn> </msub> </mrow> <msub> <mrow> <mn>450</mn> <mi>L</mi> </mrow> <mi>n</mi> </msub> </mfrac> </msup> <mi>arctan</mi> <mo>[</mo> <mfrac> <msub> <mrow> <mn>8</mn> <mi>R</mi> </mrow> <mi>Yn</mi> </msub> <msub> <mi>L</mi> <mi>n</mi> </msub> </mfrac> <mo>]</mo> </mrow> </math> 计算粗糙度系数JRCn值；(7)对JRCn值进行统计求得JRCn期望值，即为岩体结构面的粗糙度系数值。 | ||
| 地址 | 321007浙江省金华市婺州街1188号 | ||