发明名称 PROBE CARD FOR INSPECTING ELECTRONIC CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR20060058521(A) 申请公布日期 2006.05.30
申请号 KR20040097593 申请日期 2004.11.25
申请人 SAMSUNG TECHWIN CO., LTD. 发明人 KIM, SANG WOO;LEE, BONG HUI;KIM, DUCK HUNG
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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