发明名称 TEST APPARATUS OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF IT
摘要
申请公布号 KR100586303(B1) 申请公布日期 2006.05.26
申请号 KR20040104506 申请日期 2004.12.10
申请人 D.I CORPORATION 发明人 SONG, JUNG HO;KIM, KI MO;PARK, DAE GEUN
分类号 G06F11/25 主分类号 G06F11/25
代理机构 代理人
主权项
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