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发明名称 TESTABLE IC HAVING ANALOG AND DIGITAL CIRCUITS
摘要
申请公布号 KR100582807(B1) 申请公布日期 2006.05.24
申请号 KR19997012126 申请日期 1999.04.12
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3167;G01R31/3185;H03M1/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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