发明名称 SAMPLING SYSTEM AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES USING A PLURALITY OF SELF-CONTAINED PROBES
摘要
申请公布号 US3512083(A) 申请公布日期 1970.05.12
申请号 USD3512083 申请日期 1966.12.12
申请人 AUTOMATED MEASUREMENTS CORP. 发明人 SAMUEL R. MCCUTCHEON;WILLIAM F. BOGGS;WILLIAM E. EWIN
分类号 G01R15/09;G01R31/28;(IPC1-7):G01R27/00;H03B19/00;H03K5/00 主分类号 G01R15/09
代理机构 代理人
主权项
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