发明名称 |
SAMPLING SYSTEM AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES USING A PLURALITY OF SELF-CONTAINED PROBES |
摘要 |
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申请公布号 |
US3512083(A) |
申请公布日期 |
1970.05.12 |
申请号 |
USD3512083 |
申请日期 |
1966.12.12 |
申请人 |
AUTOMATED MEASUREMENTS CORP. |
发明人 |
SAMUEL R. MCCUTCHEON;WILLIAM F. BOGGS;WILLIAM E. EWIN |
分类号 |
G01R15/09;G01R31/28;(IPC1-7):G01R27/00;H03B19/00;H03K5/00 |
主分类号 |
G01R15/09 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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