发明名称 |
控制质量分析器中的离子数目 |
摘要 |
本发明公开了用于控制待在质量分析器中分析的离子数目的方法和装置。在注射时间间隔内积累离子,该时间间隔作为离子积累速度和预定期望离子数目的函数加以确定。积累速度表示离子从离子源进入离子收集器的流速。将得自于所积累离子的离子引入到质量分析器中进行分析。 |
申请公布号 |
CN1777975A |
申请公布日期 |
2006.05.24 |
申请号 |
CN200480007125.1 |
申请日期 |
2004.01.23 |
申请人 |
萨莫芬尼根有限责任公司 |
发明人 |
史蒂文·霍宁;罗伯特·马力克;约翰·E·赛卡;安德烈亚斯·维奥斯 |
分类号 |
H01J49/04(2006.01) |
主分类号 |
H01J49/04(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
秦晨 |
主权项 |
1.一种用于操作质量分析器的方法,该方法包括:a)沿着从离子源延伸到质量分析器的离子路径引入离子样品;b)在采样时间间隔期间积累得自于离子样品的离子;c)检测得自于离子样品的离子;d)根据检测和采样时间间隔确定注射时间间隔,该注射时间间隔表示用于获得预定离子数目的时间间隔;e)在相应于注射时间间隔的时间内积累离子;和f)将得自于所积累离子的离子的引入到质量分析器中。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |