| 发明名称 | 超快时间分辨X射线谱仪 | ||
| 摘要 | 一种超快时间分辨X射线谱仪，包括飞秒激光器，其特征是在所述的飞秒激光器的激光输出光路上安置一分束器，该分束器的反射光经由光学延迟线到达样品，构成对样品的作用光束，在该分束器的透射光经全反射镜入射在光阴极X射线二极管上，该光阴极X射线二极管产生的X射线入射到样品上，探测作用光束产生瞬态结构变化的过程，然后入射在硅单晶上，产生的光谱色散被探测器接收，显示在计算机上。本实用新型可用来研究待测样品的瞬态结构变化导致的光谱变化。 | ||
| 申请公布号 | CN2783319Y | 申请公布日期 | 2006.05.24 |
| 申请号 | CN200520041252.5 | 申请日期 | 2005.04.29 |
| 申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 陈建文;高鸿奕;李儒新;朱化凤;干慧倩;徐至展 |
| 分类号 | G01N23/00(2006.01) | 主分类号 | G01N23/00(2006.01) |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
| 主权项 | 1、一种超快时间分辨X射线谱仪，包括飞秒激光器(1)，其特征是在所述的飞秒激光器(1)的激光输出光路上安置一分束器(2)，该分束器(2)的反射光经由光学延迟线到达样品(9)，构成对样品(9)的作用光束(A)，在该分束器(2)的透射光(B)经全反射镜(3)入射在光阴极X射线二极管(8)上，该光阴极X射线二极管(8)产生的X射线入射到样品(9)上，探测作用光束(A)产生瞬态结构变化的过程，然后入射在硅单晶(10)上，所产生的光谱色散被探测器(11)接收，显示在计算机(12)上。 | ||
| 地址 | 201800上海市800－211邮政信箱 | ||