发明名称 Optisches Verfahren und optische Einrichtung zur Überwachung eines elektrischen Leiters
摘要 Optisches Verfahren und Einrichtung dienen zur Überwachung eines elektrischen Leiters (2, 21) mit mehreren Leiterabschnitten (L1, L2, L3), die jeweils mit mindestens einem Faser-Bragg-Gitter-Sensor (S1, S2, S3) versehen sind und auf die nacheinander eine mechanische Belastung wirkt. Bei dem Verfahren wird in die Faser-Bragg-Gitter-Sensoren (S1, S2, S3) mindestens ein Lichtsignal (LS) eingespeist und in jedem Sensor (S1, S2, S3) das Lichtsignal (LS) in Abhängigkeit von einer durch die mechanische Belastung des jeweiligen Leiterabschnittes (L1, L2, L3) hervorgerufenen Verformung verändert. Weiter wird bei dem Verfahren den verformungsbedingten Veränderungen des mindestens einen Lichtsignals (LS) jeweils ein Messwert zugeordnet, über alle Messwerte ein Mittelwert bestimmt und aus dem Mittelwert der Messwerte die auf alle Leiterabschnitte (L1, L2, L3) nacheinander von außen wirkende, die mechanische Belastung verursachende Kraft ermittelt.
申请公布号 DE102004055524(A1) 申请公布日期 2006.05.24
申请号 DE200410055524 申请日期 2004.11.17
申请人 SIEMENS AG 发明人 BOSSELMANN, THOMAS;THEUNE, NILS-MICHAEL
分类号 G01M11/00;B60L5/00;G01L11/02;G02B6/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
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