发明名称 METHOD OF FABRICATING A SEMICONDUCTOR DEVICE FOR REDUCING PARASITIC CAPACITANCE BETWEEN BIT LINES AND SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATED THEREBY
摘要
申请公布号 KR100583965(B1) 申请公布日期 2006.05.22
申请号 KR20040117868 申请日期 2004.12.31
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 HWANG, MIN WOOK
分类号 H01L21/8242;H01L21/28;H01L21/3205;H01L27/105 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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