发明名称 |
一种Li-N共掺杂生长p型ZnO晶体薄膜的方法 |
摘要 |
本发明公开的Li-N共掺杂生长p型ZnO晶体薄膜的方法采用的是脉冲激光沉积法,以高纯N<SUB>2</SUB>O为生长气氛,在反应室中电离,N<SUB>2</SUB>O为氮掺杂源,在10~20Pa的压强下,以ZnO-Li<SUB>2</SUB>O高纯陶瓷片为靶材,在衬底上沉积生成Li-N共掺杂的p型ZnO晶体薄膜。本发明方法在ZnO晶体薄膜生长过程中可以同时实现Li、N的共同实时掺杂,通过调节靶材中Li<SUB>2</SUB>O的含量、生长气氛中N<SUB>2</SUB>O的压强和电离电压、激光束能量和激光脉冲频率可以调节p型掺杂浓度,制得的p-ZnO薄膜具有良好p型传导特性,电学性能,重复性和稳定性。 |
申请公布号 |
CN1772974A |
申请公布日期 |
2006.05.17 |
申请号 |
CN200510061273.8 |
申请日期 |
2005.10.26 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
吕建国;叶志镇;张银珠;曾昱嘉;朱丽萍;赵炳辉 |
分类号 |
C30B23/00(2006.01);H01L21/203(2006.01) |
主分类号 |
C30B23/00(2006.01) |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
韩介梅 |
主权项 |
1.Li-N共掺杂生长p型ZnO晶体薄膜的方法,其特征是:将衬底清洗后放入激光脉冲沉积装置的反应室中,反应室真空度抽到至少5×10-4Pa,以Li2O的质量百分含量为0.05~1.5%的ZnO-Li2O陶瓷片为靶材,以纯N2O为生长气氛,在反应室中电离,在气体压强为10~20Pa,衬底温度为400~600℃下,进行沉积生长。 |
地址 |
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |