调试集成电路中有关定时的故障的基于事件的测试方法

摘要

一种使用基于事件的半导体测试系统来调试IC设备的故障的测试方法，该方法能够分辨有关定时的故障和其他故障。该测试方法包括步骤：施加测试信号到DUT上并评估DUT的响应输出，在响应输出中检测故障，识别与故障有关的参考信号，识别参考信号的一部分，以及逐渐增大参考信号的该部分中的事件的定时来检测来自DUT的响应输出中的变化。

主权项

1.一种使用基于事件的测试系统来调试IC设备的有关定时的故障的测试方法，包括以下步骤：将测试信号施加到被测IC设备(DUT)并在来自该DUT的响应输出中检测故障；当在所述响应输出中检测到故障时，识别与该故障相关的参考信号，识别应该在定时上被延长或缩短的一部分所述参考信号；逐渐增大所述参考信号的所述部分中的事件的定时，直到在所述响应输出中检测到通过结果；以及重复上述步骤继续进行测试。