发明名称 | 保护集成电路的方法和装置 | ||
摘要 | 一种保护集成电路免于由于过热而损坏的方法和装置,该集成电路包括多个功率晶体管(208a,208b,208n)。每个功率晶体管(208)配备有各自的温度测量电路(200a,200b,200n)。温度测量基于流经反偏pn结的电流与温度的关系。所有温度测量电路(200)与下拉线(202),即计时器(204)的触发输入相连。计时器(204)产生馈给到关断电路(206)的具有固定周期的脉冲,在任何一个功率晶体管(208)中的温度被确定为超出某个预定的阈值温度时,该关断电路通过将基极拉到发射极关断所有晶体管(208)以及其所有驱动晶体管。还提供一个全局温度传感器(210)以测量集成电路的小信号部分的温度,并在该温度被确定为超出某个预定全局阈值温度时关断电路。 | ||
申请公布号 | CN1774848A | 申请公布日期 | 2006.05.17 |
申请号 | CN200480009717.7 | 申请日期 | 2004.04.07 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | B·H·克拉本博尔格 |
分类号 | H02H5/04(2006.01) | 主分类号 | H02H5/04(2006.01) |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张雪梅;陈景峻 |
主权项 | 1、一种保护集成电路免于由于过热而损坏的方法,该集成电路包含两个或更多个晶体管(208),该方法包括以下步骤:i)在每个所述晶体管(208)中或上提供温度测量装置(200);和ii)如果在任何一个所述晶体管(208)中测得的温度超出第一预定阈值温度,则禁用所述晶体管(208)中的至少一个一段预定的时间;该方法的特征在于,温度测量装置(200)包括测量流经关于每个所述晶体管(208)提供的反偏二极管(10)的电流的装置。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |