| 发明名称 | 元件测试分选机 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供一种元件测试分选机，包括：振动入料组，具有可容纳待测试元件分片的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；测试系统机构，依行进程序逐一探测每一沟槽洞的待测试元件，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；及收料管架，具有多组收纳区，以分别收纳经由分类后的已测试元件。 | ||
| 申请公布号 | CN2781361Y | 申请公布日期 | 2006.05.17 |
| 申请号 | CN200420001551.1 | 申请日期 | 2004.01.16 |
| 申请人 | 达方电子股份有限公司 | 发明人 | 高敏 |
| 分类号 | G01N23/00(2006.01) | 主分类号 | G01N23/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陈小雯;李晓舒 |
| 主权项 | 1、一种元件测试分选机，其特征在于，包括：振动入料组，具有可容纳待测试元件的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；用于探测及分类待测试元件的测试系统机构；及收料管架，具有用以分别收纳经由分类后的待测试元件的多组收纳区。 | ||
| 地址 | 台湾省桃园县 | ||