发明名称 MEMORY DEVICE FOR TESTING MEMORY INTERFACE, AND TEST DEVICE AND METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 KR20060044086(A) 申请公布日期 2006.05.16
申请号 KR20040091884 申请日期 2004.11.11
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 JUNG, HAN GI
分类号 G11C29/00;G01R31/02 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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