| 发明名称 | 逻辑集成电路中扫描链的故障定位方法 | ||
| 摘要 | 对于多个组态相同的逻辑集成电路中的每一相对应扫描链集合撷取多个关联于反向器的初始值向量。相互比较在同一个相对应扫描链集合中的初始值向量，以确认该初始值向量中具有固定值的元素。当该具有固定值的元素的数目达到一预定的百分比时，选定该具有固定值的元素作为该相对应扫描链集合的一标准图样。相互比较一欲进行故障定位的逻辑集成电路中的扫描链的初始值向量与关联于该扫描链的标准图样，借以确定该欲进行故障定位的逻辑集成电路中的该扫描链是否具有故障的反向器。 | ||
| 申请公布号 | CN1255869C | 申请公布日期 | 2006.05.10 |
| 申请号 | CN03119376.5 | 申请日期 | 2003.03.14 |
| 申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 李俊;任志彬;杨明昌;陈宏杰 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 戈泊;程伟 |
| 主权项 | 1.一种逻辑集成电路中扫描链的故障定位方法，该逻辑集成电路包括多条扫描链，该扫描链由多个反向器所组成，其特征在于：该方法包含：一收集初始值步骤，用以利用一自动测试设备对于作为统计样本的多个组态相同的逻辑集成电路中的每一相对应扫描链集合撷取多个关联于反向器的初始值向量；一选定标准图样步骤，用以相互比较在同一个相对应扫描链集合中的每一初始值向量，以对于每一个相对应扫描链集合确认初始值向量中的具有固定值的元素，当该具有固定值的元素的数目达到一预定的百分比时，选定该具有固定值的元素作为该相对应扫描链集合的一标准图样；以及一故障定位步骤，用以相互比较一欲进行故障定位的逻辑集成电路中的扫描链的初始值与关联于该扫描链的标准图样，借以确定该欲进行故障定位的逻辑集成电路中的该扫描链是否具有故障的反向器。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹市 | ||