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发明名称
FAIL BIT DETECTION DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY FOR DETECTING MULTIPLE FAIL BIT
摘要
申请公布号
KR20060040064(A)
申请公布日期
2006.05.10
申请号
KR20040089254
申请日期
2004.11.04
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人
KIM, HYUNG GON
分类号
G11C16/34
主分类号
G11C16/34
代理机构
代理人
主权项
地址
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