发明名称 接触检测装置
摘要 在导电接触检测装置中,导电探针构件轴向可滑动地接纳在绝缘支承板形成的支承孔中,它由围绕着导电探针构件的杆部的压缩螺旋弹簧推动在一个方向上从支承孔凸出。压缩螺旋弹簧的内端具有紧密缠绕部分,其中螺旋线的相邻圈在压缩螺旋弹簧的自由状态下相互接触。当支承板朝待测试的物体下降时,压缩螺旋弹簧受压,压缩螺旋线在支承孔内弯曲使紧密缠绕部分的内表面与杆部的外周表面接触,因此电信号通过紧密缠绕部分传导,而不是沿压缩螺旋弹簧的松散缠绕部分的螺旋形通路传导,由此减小了接触检测装置的电感和电阻,同时压缩螺旋弹簧的松散缠绕部分为探针构件提供了必要的弹力。
申请公布号 CN1769897A 申请公布日期 2006.05.10
申请号 CN200510119882.4 申请日期 1997.12.26
申请人 日本发条株式会社 发明人 风间俊男
分类号 G01R1/067(2006.01) 主分类号 G01R1/067(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 张金熹
主权项 1.一种接触检测装置,包括:一个穿过支承构件的支承孔;一个可滑动地接纳在上述支承孔中的导电探针构件,上述探针构件包括从上述支承孔一端凸出的头部,从而能接触待检测的物体,一个杆部从上述头部与该头部同轴延伸、并离开从上述支承孔凸出的上述头部一端,使上述杆部向支承孔内延伸;和一个压缩螺旋弹簧同轴地接纳在具有上述导电探针构件的上述头部的上述支承孔内,从而将上述头部推出支承孔;上述压缩螺旋弹簧是导电的,这样通过上述导电探针构件的电信号通过上述压缩螺旋弹簧传到信号接收装置,上述压缩螺旋弹簧包括紧密缠绕部分;上述导电探针构件的上述杆部的外径小于上述压缩螺旋弹簧的内径,上述杆部在上述压缩螺旋弹簧内轴向延伸;上述紧密缠绕部分的外径基本小于上述支承孔相应部分的内径,这样上述紧密缠绕部分在弹簧受压时弯曲;和上述杆部搭接在上述压缩螺旋弹簧的紧密缠绕部分上,从而使上述杆部在上述压缩螺旋弹簧受压时,与上述紧密缠绕部分接触。
地址 日本神奈川县