检验光盘上的缺陷管理区信息的方法及测试设备

摘要

一种检验在利用验证初始化的光盘上的缺陷管理区信息的方法，和用于执行该检验的测试设备。该方法包括生成缺陷管理信息作为测试信息，其在对通过在空白盘上形成能识别的物理缺陷获得的测试盘，执行利用验证初始化之后，及为提供测试结果而使用关于利用验证初始化的基准测试信息检验该测试信息生成。因此，使用含有能识别的物理缺陷的测试盘，可容易地检验一记录和再现设备适当地解释和处理利用验证的初始化之后生成的DMA信息。

主权项

1.一种检验在光盘记录和再现设备中正确生成缺陷管理区、即DMA信息的方法，其中该光盘记录和再现设备在含有DMA信息的光盘上记录和再现信息，该方法包括步骤：生成测试信息，该测试信息包含缺陷管理信息，它是在一测试盘上执行用验证的初始化之后生成的，而该测试盘是通过在空白盘上制造熟知的物理缺陷而获得的；以及使用对于用验证的初始化的基准测试信息检验该包含缺陷管理信息的测试信息，以提供测试结果，其中，所述测试信息是一DMA镜像文件，其中，所述生成步骤包括直接从在用验证初始化过的测试盘上的DMA中读出测试信息，其中，所述检验步骤包括：检查构成测试信息的DMA结构、盘定义结构DDS、主缺陷列表PDL结构以及次缺陷列表SDL结构，并且检查是否存在通过验证所知道的物理缺陷的G1-列表的各PDL项。