用于检测半导体电路曝露于紫外光中的方法和设备

摘要

所公开的方法和设备用于检测是否半导体电路被曝露于紫外光。紫外光检测电路检测曝露于紫外光，并且将自动激活安全侵害信号。安全侵害信号可随意地启动程序以从存储器清除感光数据，或者防止半导体电路的进一步操作。例如，通过采用专用非易失性存储器单元的小阵列，紫外光检测电路检测是否半导体电路被曝露于紫外光。分别采用对应于程序和擦除的至少两个有源位线blprg和bler。有源位线中的一个是只可编程的，而另一个位线是只可擦除的。通常，专用非易失性存储器中的所有位最初是在大约相同的状态，其可以被擦除、编程或在某个时候在两者之间。向一个位线加偏置电流，且使用作为结果的电流差的变化以检测曝露于紫外光。

主权项

1.一种半导体电路，包括：用于执行一个或多个指令的处理器；存储器；以及用于检测是否所述半导体电路被曝露于紫外光的电路。