| 发明名称 | 检查传感器芯片质量方法、样品评估法、DNA和蛋白质芯片 | ||
| 摘要 | 提供了一种用于使用下面表示的(1)和(2)的任何一个作为判断指数检查传感器芯片质量的方法：(1)多个昼夜节律控制基因关于其表达水平的相互关系；以及(2)特定昼夜节律控制基因关于其表达水平的随时间推移的图形。还提供一种评估待经受物质之间相互作用的检测的样品的采样和制备是否适当的方法，其中上面定义的(1)或(2)用作判断指数。还提供用于该方法的DNA和蛋白质芯片。 | ||
| 申请公布号 | CN1769497A | 申请公布日期 | 2006.05.10 |
| 申请号 | CN200510113262.X | 申请日期 | 2005.07.05 |
| 申请人 | 索尼株式会社 | 发明人 | 山本拓郎;内匠透 |
| 分类号 | C12Q1/68(2006.01);G01N33/68(2006.01) | 主分类号 | C12Q1/68(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 宋莉;贾静环 |
| 主权项 | 1.一种用于使用下面表示的(1)和(2)的任何一个作为判断指数检查传感器芯片质量的方法：(1)多个昼夜节律控制基因关于其表达水平的相互关系，以及(2)特定昼夜节律控制基因关于其表达水平的随时间推移的图形。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||