发明名称 |
半导体晶片用热处理夹具 |
摘要 |
一种半导体晶片用热处理夹具,是在其上面搭载半导体晶片并进行热处理的圆盘形状的热处理夹具,通过使其厚度在1.0mm以上、100mm以下,且使与所述晶片接触的面的表面粗糙度(Ra值)为0.1μm以上,100μm以下,对在同心圆方向以及直径方向其平坦度进行规定,或者代替所述平坦度,通过多点平面度测定对在各个区域的最大高度进行测定,使与所求出的假想平均值面的差值在50μm以下,从而能够降低因半导体晶片与热处理夹具的粘合而产生的划伤。这样,即使在对自重应力较大的半导体晶片进行热处理的情况下,也能够有效防止划伤的产生,能广泛应用作为稳定的半导体基板用的热处理夹具。 |
申请公布号 |
CN1771588A |
申请公布日期 |
2006.05.10 |
申请号 |
CN200480009308.7 |
申请日期 |
2004.03.15 |
申请人 |
株式会社上睦可 |
发明人 |
足立尚志 |
分类号 |
H01L21/324(2006.01);H01L21/22(2006.01);H01L21/68(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/324(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
刘建 |
主权项 |
1、一种半导体晶片用热处理夹具,是在其上面搭载半导体晶片并进行热处理的圆盘形状的热处理夹具,其特征在于,圆盘形状的直径是所搭载的半导体晶片直径的60%以上,其厚度为1.0mm以上、10mm以下,与所述半导体晶片接触的面的表面粗糙度即Ra值为0.1μm以上、100μm以下,其平坦度是,在同心圆方向的平坦度为0.1mm以下,且直径方向的平坦度为0.2mm以下。 |
地址 |
日本国东京都 |