发明名称 |
微器件表面形貌的微、纳米测量装置 |
摘要 |
微器件表面形貌的微、纳米测量装置,其特征是采用集成化的光学读取头,以光学读取头中极光二极管作为激光光源器件,针对激光二极管设置功率控制电路,在光学读取头的四象限电压信号A、B、C、D输出端设置四象限信号放大运算电路,所得(A+C)-(B+D)失焦信号经DSP信号处理接入驱动电路,驱动电路的驱动信号接入光学读取头的音圈马达信号输入端。本实用新型利用已有的光学读取头器件,获得了低成本、高精度的微器件表面形貌的微、纳米测量装置。 |
申请公布号 |
CN2779383Y |
申请公布日期 |
2006.05.10 |
申请号 |
CN200520069706.X |
申请日期 |
2005.03.07 |
申请人 |
合肥工业大学 |
发明人 |
范光照;陈叶金;赵静;刘玉圣 |
分类号 |
G01N13/00(2006.01);G01N21/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N13/00(2006.01) |
代理机构 |
安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 |
代理人 |
何梅生 |
主权项 |
1、微器件表面形貌的微、纳米测量装置,其特征是采用集成化的光学读取头,以光学读取头中极光二极管作为激光光源器件,针对激光二极管设置功率控制电路,在所述光学读取头的四象限电压信号(A、B、C、D)输出端设置四象限信号放大运算电路,所得(A+C)-(B+D)失焦信号经DSP信号处理电路接入驱动电路,所述驱动电路的驱动信号接入光学读取头的音圈马达信号输入端。 |
地址 |
230009安徽省合肥市屯溪路193号 |