发明名称 |
可检测在电源故障期间发生写入错误的存储器件及其方法 |
摘要 |
支持错误检测的集成电路器件包括一非易失性存储器件,其中有一包含多页存储单元的存储阵列。也提供一存储控制器。该存储控制器通过电路连接到该非易失性存储器件,且被配置用于在一页面写入操作期间为该非易失性存储器件提供多段页面数据。该多段页面数据包括多段校验和数据,其确定在该页面写入操作期间待用写入数据编程的若干非易失性存储单元。在一页面读取操作期间也生成额外的校验和数据用于比较和错误检测。 |
申请公布号 |
CN1770312A |
申请公布日期 |
2006.05.10 |
申请号 |
CN200510103773.3 |
申请日期 |
2005.09.23 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
郑贤模;朴赞益 |
分类号 |
G11C7/00(2006.01);G11C16/06(2006.01);G11C29/00(2006.01);G06F12/00(2006.01) |
主分类号 |
G11C7/00(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
蒲迈文;黄小临 |
主权项 |
1.一集成电路器件,包括:一存储器件,其中具有一包含多页存储单元的存储阵列;以及一输入/输出控制电路,其通过电耦接到所述存储器件,所述输入/输出控制电路被配置用于响应一写入指令,按顺序将多段页面数据写入所述存储器件,以支持一页面写入操作,所述多段包括至少一段数据,其确定在页面写入操作期间要用写入数据编程的存储单元的数量。 |
地址 |
韩国京畿道 |