发明名称 同一半导体芯片不同周期全息光栅的制作方法
摘要 一种同一半导体芯片上不同周期全息光栅的制作方法,包括:在衬底上依次生长下波导层、多量子阱层、上波导层和保护层,得到含有半导体波导结构的芯片;将含有半导体波导结构芯片上表面的保护层均匀地涂光刻胶、掩膜光刻、显影、部分腐蚀保护层,得到第一周期光栅的制作区域;采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉保护层的部分、上波导层上制作第一周期光栅;腐蚀掉剩余的保护层;在整个芯片表面均匀地涂聚酰亚胺,保护第一周期光栅;在聚酰亚胺表面涂光刻胶,掩膜光刻,显影定形;部分腐蚀第二周期光栅区域表面的聚酰亚胺,得到第二周期光栅的制作区域;采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉聚酰亚胺的部分、上波导层上制作第二周期光栅。
申请公布号 CN1770014A 申请公布日期 2006.05.10
申请号 CN200410088728.0 申请日期 2004.11.01
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 谢红云;王圩;王宝军;周帆
分类号 G03F7/20(2006.01);H01L21/00(2006.01);G03H1/00(2006.01);G02B5/18(2006.01) 主分类号 G03F7/20(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种同一半导体芯片上不同周期全息光栅的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次生长下波导层、多量子阱层、上波导层和保护层,得到含有半导体波导结构的芯片;步骤2:将含有半导体波导结构芯片上表面的保护层均匀地涂光刻胶、掩膜光刻、显影、部分腐蚀保护层,得到第一周期光栅的制作区域;步骤3:采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉保护层的部分、上波导层上制作第一周期光栅;步骤4:腐蚀掉剩余的保护层;步骤5:在整个芯片表面均匀地涂聚酰亚胺,保护第一周期光栅;步骤6:在聚酰亚胺表面涂光刻胶,掩膜光刻,显影定形;步骤7:部分腐蚀第二周期光栅区域表面的聚酰亚胺,得到第二周期光栅的制作区域;步骤8:采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉聚酰亚胺的部分、上波导层上制作第二周期光栅。
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