发明名称 |
同一半导体芯片不同周期全息光栅的制作方法 |
摘要 |
一种同一半导体芯片上不同周期全息光栅的制作方法,包括:在衬底上依次生长下波导层、多量子阱层、上波导层和保护层,得到含有半导体波导结构的芯片;将含有半导体波导结构芯片上表面的保护层均匀地涂光刻胶、掩膜光刻、显影、部分腐蚀保护层,得到第一周期光栅的制作区域;采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉保护层的部分、上波导层上制作第一周期光栅;腐蚀掉剩余的保护层;在整个芯片表面均匀地涂聚酰亚胺,保护第一周期光栅;在聚酰亚胺表面涂光刻胶,掩膜光刻,显影定形;部分腐蚀第二周期光栅区域表面的聚酰亚胺,得到第二周期光栅的制作区域;采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉聚酰亚胺的部分、上波导层上制作第二周期光栅。 |
申请公布号 |
CN1770014A |
申请公布日期 |
2006.05.10 |
申请号 |
CN200410088728.0 |
申请日期 |
2004.11.01 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
谢红云;王圩;王宝军;周帆 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);H01L21/00(2006.01);G03H1/00(2006.01);G02B5/18(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
1、一种同一半导体芯片上不同周期全息光栅的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次生长下波导层、多量子阱层、上波导层和保护层,得到含有半导体波导结构的芯片;步骤2:将含有半导体波导结构芯片上表面的保护层均匀地涂光刻胶、掩膜光刻、显影、部分腐蚀保护层,得到第一周期光栅的制作区域;步骤3:采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉保护层的部分、上波导层上制作第一周期光栅;步骤4:腐蚀掉剩余的保护层;步骤5:在整个芯片表面均匀地涂聚酰亚胺,保护第一周期光栅;步骤6:在聚酰亚胺表面涂光刻胶,掩膜光刻,显影定形;步骤7:部分腐蚀第二周期光栅区域表面的聚酰亚胺,得到第二周期光栅的制作区域;步骤8:采用光学全息曝光的方法在腐蚀掉聚酰亚胺的部分、上波导层上制作第二周期光栅。 |
地址 |
100083北京市海淀区清华东路甲35号 |