METHOD OF PROGRAMMING FUSE FOR REPAIRING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CIRCUIT FOR VERIFYING SUCCESS OF FUSE PROGRAMMING,申请号KR20040088585-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF PROGRAMMING FUSE FOR REPAIRING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND CIRCUIT FOR VERIFYING SUCCESS OF FUSE PROGRAMMING
摘要
申请公布号	KR20060039484(A)	申请公布日期	2006.05.09
申请号	KR20040088585	申请日期	2004.11.03
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	MIN, YOUNG SUN;CHOI, JONG HYUN;KIM, NAM JONG
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
地址