Verfahren und Vorrichtung zur Generierung von Prüfdaten basierend auf einer Low-Density Parity Check (LDPC) Matrix,申请号DE200460000456T-传众专利搜索

发明名称	Verfahren und Vorrichtung zur Generierung von Prüfdaten basierend auf einer Low-Density Parity Check (LDPC) Matrix
摘要
申请公布号	DE602004000456(D1)	申请公布日期	2006.05.04
申请号	DE200460000456T	申请日期	2004.01.22
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	KIM, KI-HYUN;HAN, SUNG-HYU;PARK, IN-SIK;LEE, YOON-WOO
分类号	G06F11/10;H03M13/00;G06F17/16;G11B20/18;H03M13/09;H03M13/11;H03M13/19	主分类号	G06F11/10
代理机构		代理人
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