发明名称 化学机械研磨用之研浆(一) SLURRY FOR CHEMICAL MECHANICAL POLISHING
摘要 本发明系关于一种化学机械研磨一基板用之研浆,该基板具有:绝缘膜,以及形成于该绳缘膜上之钽系金属膜。该研浆包含:一矽土研磨料,以及草酸、丙二酸、酒石酸、苹果酸、戊二酸、柠檬酸、马来酸(顺式丁烯二酸)等聚羧酸。根据本发明,能够在高研磨速率,亦即高生产能力,且抑制凹陷及侵蚀产生的情况下,形成可靠度高以及电特性优越之埋入式电连接部。
申请公布号 TWI254072 申请公布日期 2006.05.01
申请号 TW089128250 申请日期 2000.12.28
申请人 NEC电子股份有限公司;东京磁性印刷股份有限公司 发明人 土屋泰章;板仓哲之;樱井伸
分类号 C09K3/00 主分类号 C09K3/00
代理机构 代理人 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼
主权项 1.一种基板之化学机械研磨用之研浆,该基板包含: 一具有凹部之绝缘膜;形成于该绝缘膜上,并作为 埋入式金属膜之钽系金属膜;以及一将凹部填满之 导电金属膜,该导电金属膜为一铜膜或是一铜合金 膜,该研浆包含:一矽土研磨料、一氧化剂、一抗 氧化剂、以及下列化学式(1)表示之羧酸: 其中,n=0、1、2、或3,而R1及R2则依其所键结之碳原 子各自独立,表示氢原子、-OH、或-COON;或是化学式 (2): 其中,R3及R4系各自独立,表示氢原子或-OH, 其中该羧酸系从由草酸、丙二酸、酒石酸、苹果 酸、戊二酸、柠檬酸、以及马来酸(顺式丁烯二酸 )所构成之群组中至少选出一种以上,且该抗氧化 剂包含苯并三唑或其衍生物;且 该研浆之pH=4-8,而且该研浆成分被控制,俾使该钽 系金属膜与该绝缘膜之研磨速率比至少为10:1。 2.如申请专利范围第1项之基板之化学机械研磨用 之研浆,其中该羧酸的含量为0.01-1wt%。 3.如申请专利范围第1项之基板之化学机械研磨用 之研浆,其中该矽土研磨料之含量为1-30wt%。 4.如申请专利范围第1项之基板之化学机械研磨用 之研浆,其中该研浆成分被控制,俾使该导电金属 膜与该钽系金属膜之研磨速率比介于0.9:1与3:1之 间。 图式简单说明: 图1(a)到图1(d)之制程横剖面图说明习知技术中用 以形成一埋入铜配线之方法。 图2显示使用一习知化学机械研磨用研浆所形成之 铜配线之剖面形状。
地址 日本