发明名称 |
有机二氧化矽系膜之形成方法,有机二氧化矽系膜,布线构造体,半导体装置及膜形成用组成物 |
摘要 |
本发明的有机二氧化矽系膜之形成方法,系包含有:在基材上形成由具有–Si–O–Si–构造与–Si–CH2–Si–构造之矽化合物所构成之涂膜的步骤;对上述涂膜施行加热的步骤;以及对上述涂膜照射紫外线而施行硬化处理的步骤。 |
申请公布号 |
TW200613375 |
申请公布日期 |
2006.05.01 |
申请号 |
TW094115015 |
申请日期 |
2005.05.10 |
申请人 |
JSR股份有限公司 |
发明人 |
秋山将宏;中川恭志;山中达也;盐田淳;黑泽孝彦 |
分类号 |
C08G77/48;C09D183/14;H01B3/46;H01L21/312 |
主分类号 |
C08G77/48 |
代理机构 |
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代理人 |
赖经臣;宿希成 |
主权项 |
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地址 |
日本 |