发明名称 氧氮化膜及氧化膜之形成方法、形成装置、氧氮化膜、氧化膜及基材
摘要 本发明系关于一种氮化膜以及氧氮化膜之形成方法,其与氮化反应之氮化时间.氮化温度无依存性,且可低温.高速氮化形成均匀之氮化膜以及氧氮化膜。于压力300(Torr)以上之压力下,于对向之一对电极之至少一侧对向面设置固体介电体,于该一对对向电极间导入含有0.2%以下之氧化物的氮气,将藉由施加电场所获得之N2(2^nd p.s.)或N2(H.I.R.)活性种电浆接触于被处理物,从而于该被处理物表面形成氮化膜/氧氮化膜。
申请公布号 TW200614372 申请公布日期 2006.05.01
申请号 TW094109411 申请日期 2005.03.25
申请人 积水化学工业股份有限公司 发明人 藤村纪文;早川龙马;北田裕也;上原刚;屋良卓也
分类号 H01L21/314;H01L21/02 主分类号 H01L21/314
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本