发明名称 DEVICE FOR TESTING AND REGULATING THE TEMPERATURE OF ELECTRONIC AND/OR ELECTROMECHANICAL COMPONENTS
摘要 <p>Vorrichtung zum Temperieren und Prüfen elektronischer und/oder elektromechanischer Bauteile, bestehend aus einer Temperiereinheit mit einer Heiz- und Kühleinrichtung, einer Prüf- und Kontaktierstation (50), einer Fördereinrichtung zum Transport der Prüflinge (30) sowie einer Handhabungseinrichtung (20) zum Heranführen und Abtransport der Prüflinge (60) zur bzw. von der Prüf- und Kontaktierstation, wobei die Temperiereinrichtung aus mindestens einer Temperierstation (40) mit einer nur einen Prüfling (60) oder nur wenige Prüflinge aufnehmenden Kammer (42) besteht und wobei mindestens die Förder- und Handhabungseinrichtung (20) ausserhalb der Kammer (42) vorgesehen ist.</p>
申请公布号 WO2006042660(A1) 申请公布日期 2006.04.27
申请号 WO2005EP10887 申请日期 2005.10.10
申请人 IEF WERNER GMBH;BAER, MANFRED 发明人 BAER, MANFRED
分类号 G01R31/28;B65G47/90 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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