| 发明名称 | 探测器和带有这种探测器的计算机层析X射线摄影仪 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种探测器和计算机层析X射线摄影仪，其中，探测器包括一个第一探测区(1)用于检测第一投射方向的投射射线和此外还包括至少一个第二和一个第三探测区(2、3)用于检测第二和第三投射方向的投射射线。当所述探测器(8)相应地运作时，可选择以高的时间分辨率、高体积覆盖率或选择能够覆盖大的垂直于计算机层析X射线摄影仪系统轴线(Z)的检查区横截面地灵活地扫描检查区。 | ||
| 申请公布号 | CN1763512A | 申请公布日期 | 2006.04.26 |
| 申请号 | CN200510108709.4 | 申请日期 | 2005.09.28 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 安德烈·哈通;雷纳·劳帕克;詹斯－彼得·沙纳格尔;埃伯哈德·坦韦格斯 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01);G01N23/06(2006.01);A61B6/03(2006.01);G01T1/29(2006.01) | 主分类号 | G01N23/04(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 侯宇;陶凤波 |
| 主权项 | 1.一种用于计算机层析X射线摄影仪的探测器，它包括一个用于检测第一投射方向的投射射线的第一探测区(1)和另外用于检测第二和第三投射方向的投射射线的至少一个第二和一个第三探测区(2、3)。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||