发明名称 | 莫尔像差计 | ||
摘要 | 一种改进的测量光学系统(110)的波前像差的莫尔弯度计设备(100),包括用于照明所述光学系统的表面区域(112)的光源(120),用于将散射光线引导到将波前转换为莫尔条纹图案的弯度计部件(150)的光学中继系统(140),用于对所述光学系统的出瞳(114)和所述莫尔条纹图案进行成像和显示的传感器/照相机部件(160),以及用于计算所述光学系统的波前像差的条纹图案分析器,其改进之处在于对光学系统的出瞳(114)进行照明的照明源(130);以及与所述照明源按照将所述设备的测量轴一致并准确对齐到所述光学系统的方式而协同工作的对齐系统(180)。相关方法也在此公开。 | ||
申请公布号 | CN1764411A | 申请公布日期 | 2006.04.26 |
申请号 | CN200480008266.5 | 申请日期 | 2004.03.16 |
申请人 | 博士伦公司 | 发明人 | 巴里·T·伊根 |
分类号 | A61B3/103(2006.01) | 主分类号 | A61B3/103(2006.01) |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 王英 |
主权项 | 1.一种测量光学系统的波前像差的设备,所述设备包括用于照明所述光学系统的选定表面区域的光源,用于将从所述光学系统的表面区域散射的光源照明引导到弯度计部件的光学中继系统,其中所述弯度计部件将来自所述光学系统的波前转换为莫尔条纹图案,用于对所述光学系统的出瞳和所述莫尔条纹图案进行成像和显示的传感器/照相机部件,以及用于计算所述光学系统的波前像差的条纹图案分析器,其特征在于:照明所述光学系统的出瞳的照明源;以及与所述照明源以这样一种方式协同工作的对齐系统,使得将所述设备的测量轴始终对齐到所述光学系统。 | ||
地址 | 美国纽约 |