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发明名称 DEVICE AND METHOD FOR HEAT TEST
摘要
申请公布号 KR20060035317(A) 申请公布日期 2006.04.26
申请号 KR20040084758 申请日期 2004.10.22
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KANG, CHUN SEONG
分类号 G01N25/72;G01M99/00 主分类号 G01N25/72
代理机构 代理人
主权项
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